仪器名称： 扫描探针显微镜（SPM）

仪器型号： Dimension ICON XR

厂家：Bruker公司

主要技术指标：
  测量模式：

        Contact Mode（接触模式）

        Tapping Mode（轻敲模式）

        Peak force Tapping（峰值力轻敲）

        LFM（横向力/摩擦力）

        Peakforce QNM（定量纳米力学）

        Force curve/Force volume（力曲线/力谱）

        MFM（磁力显微镜）

        EFM（静电力显微镜）

        KPFM（表面电势）

        PFM（压电力显微镜）

        TUNA（导电原子力）

        EC（电化学）

        Nanolithography(纳米刻蚀)

   扫描范围：90×90×10µm；

   噪声水平：0.03nm

   分辨率：可持续稳定得到原子级分辨率

   测试环境：加热冷却（-35℃至250℃）成像（空气及惰性气体环境）、液体环境成像

主要功能及应用范围：

   布鲁克Dimension XR扫描探针显微镜可在大气或液体环境下实现纳米尺度原子级的高分辨率三维形貌扫描，并原位对样品表面进行纳米力学、电学、电化学等多功能测量。采用高温和低温对样品进行温度控制。

仪器安装地点：紫金港西区，和同苑2幢（化2)～301

仪器管理员：贺静, 87951515